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      日本JIMA RT RC-05B分辨率測試卡

      日本JIMA RT RC-05B分辨率測試卡

      JIMA(日本檢驗儀器制造商協會)分辨率測試圖 JIMA RT RC-05B 是使用新半導體光刻技術制作的顯微圖。
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      JIMA(日本檢驗儀器制造商協會)分辨率測試圖 JIMA RT RC-05B 是使用新半導體光刻技術制作的顯微圖。


      日本JIMA RT RC-05B分辨率測試卡產品簡介:

      JIMA(日本檢驗儀器制造商協會)分辨率測試圖 JIMA RT RC-05B 是使用新半導體光刻技術制作的顯微圖。

      它用于校準和監控系統分辨率,并確保您的微焦點或納米分辨率 X 射線檢測系統的高質量結果。JIMA RT RC-05B 支持 3 微米到 50 微米之間的分辨率。這對應于 6 微米和 100 微米之間的焦點尺寸。


      日本JIMA RT RC-05B分辨率測試卡應用:

      修復 X 射線系統操縱器上的分辨率測試。選擇探測器、樣品和試管的距離,以實現高幾何放大倍率。

      選擇所需的 X 射線參數。將分辨率測試放置在管的前面,使線條圖案可見。使用操縱器移動測試圖,以便看到下一個較小的線對束。

      只要線條清晰可見,就繼續。焦點大小近似計算為小分辨率乘以 2。

      注意:盡量減少輻射的持續時間。在手術過程中關閉 X 射線。目標前面的熱量可能會損壞測試圖。


      日本JIMA RT RC-05B分辨率測試.jpg



      日本JIMA RT RC-05B分辨率測試卡技術參數:

      狹縫尺寸:3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45 和 50 微米

      測試框架尺寸:40 x 30 x 3 mm (WxHxD)

      芯片尺寸:8 x 8 x 0.2 mm (WxHxD)

      吸收材料厚度:>1.0 μm 金

      所有圖案尺寸均已通過 SEM 在典型點處測量。數據顯示在認證文件中。

      圖案精度:[-10%, +10%]以內

      工作溫度范圍:10° 至 70°C。


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